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| 試料表面の高さ方向の情報が高分解能（0.01nm）で得られます。また、摩擦力や磁気力などの物理的性状の像を得ることができます。数千倍から数百万倍（試料によっては原子レベル）の像が得られます。絶縁物も特殊な前処理なしに測定でき、高真空を必要としないため生体試料にも適しています。このように種々の特長を持ちますので、金属、木工、繊維、バイオ、電気・電子、機械、陶磁器など、幅広い分野に渡って有効に活用されています。 |
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 | 鋭利な先端を持つ探針を試料に近づけると、両者の間に引力や斥力が働きます。探針のついているカンチレバーがゆがみ、レーザー光の反射角の変化が光センサーで検出され、試料の表面形状を観察することができます。 |
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| 測定条件によっては原子間力を利用した原子像が得られます。 |
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| 探針はSi製で、長さ約3μm、先端の曲率半径10〜15nmと微細です。 |
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| 設置場所： バイオナノテクセンター（片柳研究所棟6階） |
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