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| X線を照射することにより様々な物質の構造を解析し、同時に相転移も測定できる装置です。この装置は汎用性が高く、様々な物質の化学的、物理的な性質を測定するのに使われます。 |
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 | X線回折との同時測定により、DSCだけでは判断し難い昇降温時の結晶変化情報を容易に取得可能 |
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| XRD、DSCが分離し、単独測定も可能 |
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| 多層膜ミラーによる単色光輝度入射ビームによりP／B比の高いデータ獲得 |
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| 有機化合物・医薬品・高分子・無機化合物・セラミック・電子材料の評価に威力を発揮 |
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| 設置場所： バイオナノテクノロジーセンター（片柳研究所棟6階） |
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